Nano-scale Measurement using the Direct Gray-level Method by Holographic Interferometry

in International Symposium (oral presentation paper), 國際研討會(全文口頭發表)
標題Nano-scale Measurement using the Direct Gray-level Method by Holographic Interferometry
出版類型國際研討會(全文口頭發表)
出版年度2003
AuthorsYung-Chang Chen, 陳永昌, Chi-Hui Chien 錢志回, Yii-Der Wu 吳以德, & Chi-Chang Hsieh 謝其昌
出版日期Jun 2 2003 12:0
會議地點Charlotte, North Carolina
其他編號0000
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