應用機器視覺於LCM 亮/暗點瑕疵檢測與分類

in National workshop (full text oral presentation), 國內研討會(全文口頭發表)
標題應用機器視覺於LCM 亮/暗點瑕疵檢測與分類
出版類型國內研討會(全文口頭發表)
出版年度2005
AuthorsNyen-Ts Chen, 陳念慈
會議名稱2005年精密機械與製造技術研討會
出版日期May 20 2005 12:0
會議地點墾丁福華大飯店
其他編號0000
中文摘要

顯示器是現今人們資訊傳遞與溝通之重要界面,TFT-LCD 因具備輕、薄、省電、
零輻射、省空間及攜帶方便等特性,故已發展成為未來顯示器的主流。目前業界對LCM(Liquid-Crystal Module)的瑕疵檢測仍然仰賴大量人工於無塵室中,以顯微鏡來進行人工目視檢測,人工檢驗作業適應力固然大,但是人工作業往往受外在環境影響,造成檢測效率較

校址:912 屏東縣內埔鄉學府路1號 總機:886-8-7703202 傳真:886-8-7740165 系統開發統維護單位:國立屏東科技大學 電算中心 版權所有